tests/bmm_cap.4.ckt.ref

   1 # semiconductor "capacitor" test
   2 #           v(1)       v(2)       c(c2)
   3  27.        2.         2.         10.p
   4 #Time       v(1)       v(2)
   5  0.         0.         0.
   6  20.p       0.         0.
   7  40.p       0.         0.
   8  60.p       0.         0.
   9  80.p       0.         0.
  10  100.p      0.         0.
  11  2.n        0.5        0.043379
  12  3.n        1.         0.11068
  13  4.n        1.         0.19537
  14  6.n        1.         0.34167
  15  7.n        1.         0.40437
  16  8.n        1.         0.46109
  17  10.n       1.         0.55908
  18  12.n       1.         0.63925
  19  14.n       1.         0.70484
  20  16.n       1.         0.7585
  21  18.n       1.         0.80241
  22  20.n       1.         0.83834
  23 #Freq       v(1)       v(2)       vp(2)      vdb(2)
  24  15.9Meg    1.         0.70745   -44.972    -3.0061
  25 #Freq       v(1)       v(2)       vp(2)      vdb(2)
  26  1.Meg      1.         0.99803   -3.5953    -0.017112
  27  2.1544Meg  1.         0.99096   -7.7091    -0.078861
  28  4.6416Meg  1.         0.96001   -16.259    -0.35451
  29  10.Meg     1.         0.84673   -32.142    -1.4451
  30  21.544Meg  1.         0.59418   -53.546    -4.5216
  31  46.416Meg  1.         0.32435   -71.074    -9.7797
  32  100.Meg    1.         0.15718   -80.957    -16.072
  33  215.44Meg  1.         0.073672  -85.775    -22.654
  34  464.16Meg  1.         0.034269  -88.036    -29.302
  35  1.G        1.         0.015913  -89.088    -35.965
  36 v1 ( 1 0 )  TRAN pwl( 0., 0.  1.999999n, 0.  2.000001n, 1. )  DC  2.  AC  1.
  37 r1 ( 1 2 )  1.K
  38 c2 ( 2 0 ) t1 l= 1.u w= 2.u
  39 .model t1 c ( cj=5 cjsw=NA( 0.) narrow=NA( 0.) defw=NA( 1.u) tc1=NA( 0.) tc2=NA( 0.) tnom=NA( 27.))
  40 Gnucap   System status
  41 iterations: op=4, dc=0, tran=61, fourier=0, total=94
  42 transient timesteps: accepted=18, rejected=0, total=18
  43 nodes: user=2, subckt=0, model=0, total=2
  44 dctran density=100.0%, ac density=100.0%