tests/d_mos8.nand1.ckt

   1 .title na2
   2 .options initsc 1
   3
   4 .model nmos nmos level=8 vth0=0.7
   5 .model pmos pmos level=8 vth0=-0.7
   6
   7 .SUBCKT nand2 2 3 1 4 11
   8 Mp1 4 2 1 1 PMOS W=8e-6 L=600e-9
   9 Mp2 4 3 1 1 PMOS W=8e-6 L=600e-9
  10 Mn1 4 2 11 0 NMOS W=8e-6 L=600e-9
  11 Mn2 11 3 0 0 NMOS W=8e-6 L=600e-9
  12 Rleak 11 0 1000meg
  13 .ENDS
  14
  15 XI10 2 2 1 4 5 nand2
  16 C1 4 0 1p
  17
  18 vdd 1 0 5
  19 vin 2 0 PWL (0 0, 1n 0, 3n 5, 10n 5, 12n 0, 20n 0)
  20
  21 .print op v(nodes) z(5) iter(0)
  22 .op trace iter
  23
  24 .print op region(XI10.Mp1.Ddb) region(XI10.Mp2.Ddb) region(XI10.Mn1.Ddb) region(XI10.Mn2.Ddb) region(XI10.Mn1.Dsb)
  25 .op trace iter
  26
  27 .print op V(XI10.Mp1.Ddb) V(XI10.Mp2.Ddb) V(XI10.Mn1.Ddb) V(XI10.Mn2.Ddb) V(XI10.Mn1.Dsb)
  28 .op trace iter
  29
  30 .print op I(XI10.Mp1.Ddb) I(XI10.Mp2.Ddb) I(XI10.Mn1.Ddb) I(XI10.Mn2.Ddb) I(XI10.Mn1.Dsb)
  31 .op trace iter
  32
  33 .print tran v(2) v(4) v(5) iter(0)
  34 .tran 0.1n 10n trace all
  35
  36 .stat notime
  37 .end