Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / lld / test / ELF / lto / Inputs / thin1.ll
blob3c2fc4cbef4c768e77c39072f94102822f8d5346
1 target datalayout = "e-m:e-p270:32:32-p271:32:32-p272:64:64-i64:64-f80:128-n8:16:32:64-S128"
2 target triple = "x86_64-scei-ps4"
4 define i32 @foo(i32 %goo) {
5 entry:
6   %goo.addr = alloca i32, align 4
7   store i32 %goo, ptr %goo.addr, align 4
8   %0 = load i32, ptr %goo.addr, align 4
9   %1 = load i32, ptr %goo.addr, align 4
10   %mul = mul nsw i32 %0, %1
11   ret i32 %mul