Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / lld / test / wasm / lto / Inputs / thin1.ll
blob04fa091ad2887efa41e29f99badc42049602d7f3
1 ; Copied from lld/test/ELF/lto/Inputs/thin1.ll
3 target datalayout = "e-m:e-p:32:32-p10:8:8-p20:8:8-i64:64-n32:64-S128"
4 target triple = "wasm32-unknown-unknown"
6 define i32 @foo(i32 %goo) {
7 entry:
8   %goo.addr = alloca i32, align 4
9   store i32 %goo, ptr %goo.addr, align 4
10   %0 = load i32, ptr %goo.addr, align 4
11   %1 = load i32, ptr %goo.addr, align 4
12   %mul = mul nsw i32 %0, %1
13   ret i32 %mul