Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / Assembler / 2007-01-05-Cmp-ConstExpr.ll
blob6661087b4c93e35fdd501abc53be8379fe5d398a
1 ; Test Case for PR1080
2 ; RUN: llvm-as %s -o /dev/null
3 ; RUN: verify-uselistorder %s
5 @str = internal constant [4 x i8] c"-ga\00"             ; <ptr> [#uses=2]
7 define i32 @main(i32 %argc, ptr %argv) {
8 entry:
9         %tmp65 = getelementptr ptr, ptr %argv, i32 1                ; <ptr> [#uses=1]
10         %tmp66 = load ptr, ptr %tmp65               ; <ptr> [#uses=0]
11         br i1 icmp ne (i32 sub (i32 ptrtoint (ptr getelementptr ([4 x i8], ptr @str, i32 0, i64 1) to i32), i32 ptrtoint (ptr @str to i32)), i32 1), label %exit_1, label %exit_2
13 exit_1:         ; preds = %entry
14         ret i32 0
16 exit_2:         ; preds = %entry
17         ret i32 1