Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / CodeGen / ARM / vargs_align.ll
blob68b6bbcdad41f0a0fb20af7ed332c19619584ad3
1 ; RUN: llc < %s -mtriple=armv7-linux-gnueabihf | FileCheck %s -check-prefix=EABI
2 ; RUN: llc < %s -mtriple=arm-linux-gnu | FileCheck %s -check-prefix=OABI
4 define i32 @f(i32 %a, ...) {
5 entry:
6         %a_addr = alloca i32            ; <ptr> [#uses=1]
7         %retval = alloca i32, align 4           ; <ptr> [#uses=2]
8         %tmp = alloca i32, align 4              ; <ptr> [#uses=2]
9         store i32 %a, ptr %a_addr
10         store i32 0, ptr %tmp
11         %tmp1 = load i32, ptr %tmp              ; <i32> [#uses=1]
12         store i32 %tmp1, ptr %retval
13         call void @llvm.va_start(ptr null)
14         call void asm sideeffect "", "~{d8}"()
15         br label %return
17 return:         ; preds = %entry
18         %retval2 = load i32, ptr %retval                ; <i32> [#uses=1]
19         ret i32 %retval2
20 ; EABI: add sp, sp, #16
21 ; EABI: vpop {d8}
22 ; EABI: add sp, sp, #4
23 ; EABI: add sp, sp, #12
25 ; OABI: add sp, sp, #24
28 declare void @llvm.va_start(ptr) nounwind