Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / CodeGen / X86 / 2010-05-06-LocalInlineAsmClobber.ll
blobc9aa3b8ca9fcb8876f0148cb05076a359e113c2b
1 ; RUN: llc -regalloc=fast -optimize-regalloc=0 %s -o %t
2 ; PR7066
4 target datalayout = "e-p:64:64:64-i1:8:8-i8:8:8-i16:16:16-i32:32:32-i64:64:64-f32:32:32-f64:64:64-v64:64:64-v128:128:128-a0:0:64-s0:64:64-f80:128:128-n8:16:32:64"
5 target triple = "x86_64-unknown-linux-gnu"
7 define i32 @sys_clone(ptr %fn, ptr %child_stack, i32 %flags, ptr %arg, ptr %parent_tidptr, ptr %newtls, ptr %child_tidptr) nounwind {
8   call i64 asm sideeffect "", "={ax},0,i,i,r,{si},{di},r,{dx},imr,imr,~{sp},~{memory},~{r8},~{r10},~{r11},~{cx},~{dirflag},~{fpsr},~{flags}"(i64 4294967274, i32 56, i32 60, ptr undef, ptr undef, i32 undef, ptr undef, ptr undef, ptr undef, ptr undef) nounwind ; <i64> [#uses=0]
9   ret i32 undef