Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / CodeGen / X86 / GC / inline2.ll
blob32256dd80b64990d71f57a7aeebf633a6ea6de03
1 ; RUN: opt < %s -passes='cgscc(inline)' -S | grep sample
2 ; RUN: opt < %s -passes='cgscc(inline)' -S | grep example
4         %IntArray = type { i32, [0 x ptr] }
6 declare void @llvm.gcroot(ptr, ptr) nounwind
8 define i32 @f() gc "sample" {
9         %x = call i32 @g( )             ; <i32> [#uses=1]
10         ret i32 %x
13 define internal i32 @g() gc "example" {
14         %root = alloca ptr              ; <ptr> [#uses=2]
15         call void @llvm.gcroot( ptr %root, ptr null )
16         %obj = call ptr @h( )           ; <ptr> [#uses=2]
17         store ptr %obj, ptr %root
18         %Length.ptr = getelementptr %IntArray, ptr %obj, i32 0, i32 0           ; <ptr> [#uses=1]
19         %Length = load i32, ptr %Length.ptr             ; <i32> [#uses=1]
20         ret i32 %Length
23 declare ptr @h()