Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / CodeGen / X86 / fast-isel-constrain-store-indexreg.ll
blobc40a38fdca3254d3034d2f86874d54dda35a592a
1 ; RUN: llc %s -o - -verify-machineinstrs | FileCheck %s
3 target datalayout = "e-m:o-i64:64-f80:128-n8:16:32:64-S128"
4 target triple = "x86_64-apple-unknown"
6 @TheArray = external global [100000 x double], align 16
8 ; This test ensures, via the machine verifier, that the register class for the
9 ; index of the double store is correctly constrained to not include SP.
11 ; CHECK: movsd
13 define i32 @main(ptr %i, double %tmpv) {
14 bb:
15   br label %bb7
17 bb7:                                              ; preds = %bb7, %bb
18   %storemerge = phi i32 [ 0, %bb ], [ %tmp19, %bb7 ]
19   %tmp15 = zext i32 %storemerge to i64
20   %tmp16 = getelementptr inbounds [100000 x double], ptr @TheArray, i64 0, i64 %tmp15
21   store double %tmpv, ptr %tmp16, align 8
22   %tmp18 = load i32, ptr %i, align 4
23   %tmp19 = add i32 %tmp18, 1
24   br label %bb7