Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / CodeGen / X86 / inline-asm-modifier-c.ll
blob95f62658483f11261d215559403cf5a11a2d8054
1 ; RUN: llc -mtriple=x86_64-linux-gnu < %s | FileCheck %s
3 ; Test that %c works with immediates
4 ; CHECK-LABEL: test_inlineasm_c_output_template0
5 ; CHECK: #TEST 42
6 define dso_local i32 @test_inlineasm_c_output_template0() {
7   tail call void asm sideeffect "#TEST ${0:c}", "i"(i32 42)
8   ret i32 42
11 ; Test that %c works with global address
12 ; CHECK-LABEL: test_inlineasm_c_output_template1
13 ; CHECK: #TEST baz
14 @baz = internal global i32 0, align 4
15 define dso_local i32 @test_inlineasm_c_output_template1() {
16   tail call void asm sideeffect "#TEST ${0:c}", "i"(ptr nonnull @baz)
17   ret i32 42