Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / ExecutionEngine / MCJIT / test-call.ll
blob6f96362efe6c57cd2b5092dd704e635895ab2b71
1 ; RUN: %lli -jit-kind=mcjit %s > /dev/null
2 ; RUN: %lli %s > /dev/null
4 declare void @exit(i32)
6 define i32 @test(i8 %C, i16 %S) {
7         %X = trunc i16 %S to i8         ; <i8> [#uses=1]
8         %Y = zext i8 %X to i32          ; <i32> [#uses=1]
9         ret i32 %Y
12 define void @FP(ptr %F) {
13         %X = call i32 @test( i8 123, i16 1024 )         ; <i32> [#uses=1]
14         call void %F( i32 %X )
15         ret void
18 define i32 @main() {
19         call void @FP( ptr @exit )
20         ret i32 1