Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / ThinLTO / X86 / Inputs / devirt_available_externally.ll
blob568b3376196c9f18605ee244e33d734d234ed330
1 target datalayout = "e-m:e-p270:32:32-p271:32:32-p272:64:64-i64:64-f80:128-n8:16:32:64-S128"
2 target triple = "x86_64-grtev4-linux-gnu"
4 %struct.D = type { ptr }
6 @_ZTV1D = constant { [3 x ptr] } { [3 x ptr] [ptr null, ptr undef, ptr @_ZN1D1mEi] }, !type !3
8 define i32 @_ZN1D1mEi(ptr %this, i32 %a) #0 {
9    ret i32 0;
12 attributes #0 = { noinline optnone }
14 !3 = !{i64 16, !"_ZTS1D"}