Run DCE after a LoopFlatten test to reduce spurious output [nfc]
[llvm-project.git] / llvm / test / ThinLTO / X86 / index-const-prop-ldst.ll
blobae68275d1f9f61c66c696c8f5489a1c8b8466bb7
1 ; RUN: opt -module-summary %s -o %t1.bc
2 ; RUN: opt -module-summary %p/Inputs/index-const-prop-define-g.ll -o %t2.bc
3 ; RUN: llvm-lto2 run -save-temps %t2.bc -r=%t2.bc,g,pl %t1.bc -r=%t1.bc,main,plx -r=%t1.bc,g, -o %t3
4 ; RUN: llvm-dis %t3.2.3.import.bc -o - | FileCheck %s
6 ; The 'store' instruction in @main should prevent internalization
7 ; even when there is 'load' instruction before it.
8 ; CHECK: @g = available_externally global i32 42
10 target datalayout = "e-m:e-p270:32:32-p271:32:32-p272:64:64-i64:64-f80:128-n8:16:32:64-S128"
11 target triple = "x86_64-unknown-linux-gnu"
13 @g = external global i32
15 define i32 @main() {
16   %v = load i32, ptr @g
17   %q = add i32 %v, 1
18   store i32 %q, ptr @g
19   
20   ret i32 %v